Hệ thống kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Model : QUANTA 650 ; Số lượng: 01 hệ thống
Hãng sản xuất: FEI – Mỹ ;
SEM có khả năng quan sát chi tiết bề mặt mẫu ở độ phóng đại cao.
Phòng thí nghiệm SEM tại Viện Địa chất
Các tính năng của SEM:
- Quan sát bề mặt mẫu rắn ở các độ phóng đại khác nhau.
- Độ sâu trường quan sát lớn hơn rất nhiều so với kính hiển vi quang học, cho phép thu ảnh lập thể.
- Kết hợp với đầu thu phổ tán xạ năng lượng tia X (EDX) cho phép phân tích thành phần nguyên tố của vùng quan sát.
Tin tức khác
- Hệ thống phòng thí nghiệm vi phân tích đầu dò điện tử (EPMA)
- Hệ thống phân tích nhiễu xạ tia X (XRD)
- Hệ thống phân tích khối phổ (ICP-MS)
- Hệ thống phân tích huỳnh quang tia X (XRF)
- Thiết bị đo thế Zeta
- Máy phân tích độ hạt bằng laser bao gồm: hệ thống quang học nhiễu xạ laser và các thiết bị phụ trợ
- Thiết bị nung nhiệt độ cao 1200 độ C
- Thiết bị nung nhiệt độ cao 1300 độ C