Hệ thống phân tích huỳnh quang tia X (XRF)
Hệ thống thiết bị phân tích Huỳnh quang tia X (XRF) của Viện Địa chất là một trong những Hệ thiết bị phân tích nguyên tố hiện đại và có độ chính xác cao tại Việt Nam, hệ thiết bị của Viện thuộc dòng thiết bị phân tích theo bước sóng (WD-XRF). Hệ thiết bị được Viện trang bị năm 2008 thay thế hệ phân tích quang phổ phát xạ thế hệ cũ của Viện.
Các bộ mẫu chuẩn dùng cho phân tích mẫu quặng, mẫu đá,… của các hãng của Pháp, Nga và đặc biệt bộ mẫu chuẩn dùng cho phân tích các thành phần Silicat được sử dụng là bộ mẫu chuẩn của Sở Địa chất Nhật Bản cùng với các mẫu chuẩn từ Hiệp Hội Địa chất Mỹ (USGS). Quy trình phân tích được báo cáo hàng năm tại Hội đồng khoa học của Viện.
Hệ phân tích XRF thuộc Trung tâm phân tích (tiền thân là phòng phân tích Hóa – Quang Phổ) của Viện Địa chất quản lý và vận hành. Các cán bộ của Trung tâm có trình độ từ Thạc sỹ, Tiến sỹ thuộc các chuyên ngành Hoá phân tích, Vật Lý Quang phổ và Địa Hoá. Cụ thể như sau:
TT |
Họ tên cán bộ |
Giới tính |
Trình độ |
1 |
Nguyễn Hoàng |
Nam |
Tiến sĩ Địa hóa |
2 |
Nguyễn Thị Thu |
Nữ |
Thạc sĩ Hóa học |
3 |
Cù Sỹ Thắng |
Nam |
Thạc sĩ Vật lý |
4 |
Lê Thị Phương Dung |
Nữ |
Thạc sĩ Hóa học |
5 |
Trần Thị Hường |
Nữ |
Thạc sĩ Địa chất |
6 |
Nguyễn Thị Mai |
Nữ |
Thạc sĩ Địa chất |
Trung tâm phân tích của Viện đã thực hiện các công việc phân tích mẫu thuộc nhiều đề tài, dự án các cấp trong Viện và các cơ quan ngoài Viện với độ chính xác và độ tin cậy cao. Chúng tôi có thể liệt kê một số đơn vị gửi mẫu sau:
TT |
Tên đơn vị gửi mẫu |
Loại mẫu |
Thời gian |
1 |
Đề tài trọng điểm cấp nhà nước. Đề tài KC.02.25/06-10. |
Mẫu đất, đá địa chất |
2009 - 2010 |
2 |
Đề tài thuộc Chương trình Tây Nguyên 3- Viện Hàn lâm KH&CN VN. |
Mẫu đất, đá địa chất |
2012 đến nay |
3 |
Đề tài, dự án các cấp của Viện. |
Mẫu đất, đá địa chất |
2008 đến nay |
4 |
Viện Công nghệ Môi trường- Viện Hàn lâm KH&CNVN. |
Mẫu môi trường |
2013 |
5 |
Viện Khảo Cổ. |
Mẫu khảo cổ |
2013 |
6 |
Trung tâm phân tích thí nghiệm Địa chất. |
Mẫu địa chất |
2013 -2014 |
7 |
Công ty thuỷ tinh Sanmiguel Hải Phòng. |
Mẫu silicat, mẫu nguyên liệu |
2011 đến nay |
8 |
Đoàn Intergeo 2 |
Mẫu đá địa chất |
2013 đến nay |
9 |
Viện Nghiên cứu khoa học và thiết kế dầu khí biển, thuộc Liên doanh Việt –Nga Vietsovpetro |
Mẫu đá, mẫu trầm tích địa chất |
2014, 2016, 2017 |
10 |
Vinacontrol |
Các mẫu quặng,.. |
2015, 2016, 2017, 2018 |
11 |
Chi cục Kiểm định Hải quan 2 |
Các mẫu ferrosilic |
2017, 2018 |
12 |
Các công ty gốm sứ, vật liệu |
Các mẫu cao lanh, mẫu sản phẩm,… |
2017, 2018 |
Model : S4 - Pioneer ; Số lượng: 01 hệ thống
Hãng sản xuất: Bruker – Đức ;
Hệ thiết bị XRF và các thiết bị chuẩn bị mẫu
Tính năng: Phân tích hàm lượng nguyên tố từ Be4 đến U92 trong các mẫu dạng rắn, nung chảy, lỏng và bột (bột nén và bột rời), dạng phim mỏng, dạng sệt,…
- Phương pháp phân tích: phân tích định tính, định lượng, phi chuẩn.
- Kích thước và lượng mẫu:
Mẫu rắn: đường kính ≥ 40 mm
Mẫu bột: Khối lượng từ vài gam (cho phân tích nung chảy) đến 10 gam (cho phân tích dạng bột nén).
Mẫu lỏng: 50 ml
Lĩnh vực áp dụng:
- Phạm vị ứng dụng: Thiết bị Huỳnh quang Rơnghen S4 - Pioneer được sử dụng trong nhiều lĩnh vực khác nhau:
* Công nghiệp gốm sứ, nung đốt: gốm, thuỷ tinh, xi măng,…
* Phân tích thành phần % các nguyên tố có trong vật liệu, các mẫu địa chất như: đất sét, cao lanh, feldspar, dolomite, sắt và quặng, lim loại màu, các thành phần chính trong các loại nguyên liệu thô.
* Trong nghiên cứu môi trường: than cháy, sỏi bùn, tro bay,…
* Trong công nghệ chế biến thức ăn: độ tinh khiết trong thức ăn, thức ăn động vật, độ khoáng, độ muối.
* Trong hoá học: các loại sơn, bột, cao su, dầu mỏ, dầu nhờn, dung môi và tân dược.
* Trong các phòng thí nghiệm phân tích đo lường chất lượng.
* Các ứng dụng khác: giấy lụa, khảo cổ học,…
- Giới hạn của thiết bị: Khoảng nồng độ phân tích: từ ppm (10-6) đến 100%
Thiết bị nung chảy mẫu: Thiết bị đi kèm hệ thống phân tích XRF
Model: K1-Katanax Số lượng: 01 thiết bị
Hãng sản xuất: KATANAX- Canada
+ Tính năng: Dùng để đồng hóa hoàn toàn mẫu bằng phương pháp nung chảy mẫu. Loại bỏ ảnh hưởng của các hiệu ứng khoáng vật hay kích thước hạt trong mẫu.
+ Lĩnh vực áp dụng: ứng dụng trong công tác chuẩn bị mẫu đối với các hệ phân tích: XRF, AAS và ICP-MS.
Tin tức khác
- Hệ thống phòng thí nghiệm vi phân tích đầu dò điện tử (EPMA)
- Hệ thống phân tích nhiễu xạ tia X (XRD)
- Hệ thống kính hiển vi điện tử quét (SEM)
- Hệ thống phân tích khối phổ (ICP-MS)
- Thiết bị đo thế Zeta
- Máy phân tích độ hạt bằng laser bao gồm: hệ thống quang học nhiễu xạ laser và các thiết bị phụ trợ
- Thiết bị nung nhiệt độ cao 1200 độ C
- Thiết bị nung nhiệt độ cao 1300 độ C