Kính hiển vi soi nổi
Model: STEMI 2000 C Số lượng: 01
Hãng: ZEISS - Đức
Tin tức khác
- Hệ thống phòng thí nghiệm vi phân tích đầu dò điện tử (EPMA)
- Hệ thống phân tích nhiễu xạ tia X (XRD)
- Hệ thống kính hiển vi điện tử quét (SEM)
- Hệ thống phân tích khối phổ (ICP-MS)
- Hệ thống phân tích huỳnh quang tia X (XRF)
- Thiết bị đo thế Zeta
- Máy phân tích độ hạt bằng laser bao gồm: hệ thống quang học nhiễu xạ laser và các thiết bị phụ trợ
- Thiết bị nung nhiệt độ cao 1200 độ C