VIỆN HÀN LÂM KHOA HỌC VÀ CÔNG NGHỆ VIỆT NAM

VIỆN ĐỊA CHẤT

Máy phân tích độ hạt bằng laser bao gồm: hệ thống quang học nhiễu xạ laser và các thiết bị phụ trợ

Model: LA-960                                             Số lượng: 01 hệ thống

Hãng sản xuất: Horiba.

Hệ thống phân tích độ hạt bằng laser LA-960 / Horiba

Phân tích độ hạt trầm tích bở rời trong khoa học Địa chất trong nhiều năm trở lại đây ngày càng tăng cao, đòi hỏi của các nghiên cứu cơ bản cũng như yêu cầu trong các nhiệm vụ sản xuất và các nghiên cứu ứng dụng trong lĩnh vực địa chất, môi trường, xây dựng, y tế.... cần có độ chính xác cao và phân cấp độ hạt chi tiết. Các phương pháp phân tích kinh điển hiện đang áp dụng hiện nay như tỷ trọng kế, pippet... không thể đáp ứng. Thiết bị máy phân tích độ hạt bằng Laser hiện có tại Viện Địa chất có đủ các tính năng kỹ thuật đáp ứng được các yêu cầu phân tích độ hạt phục vụ cho các đề tài, nhiệm vụ nghiên cứu cơ bản, ứng dụng và phục vụ sản xuất.

Thiết bị này kết hợp với máy phân tích XRD tạo thành một hệ thống phân tích hoàn chỉnh về thành phần khoáng vật, đặc biệt là khoáng vật sét.

Một số thông số kỹ thuật :

  • Nguyên lý đo tán xạ ánh sáng laser
  • Có thể đo với mẫu khô và mẫu lỏng
  • Dải đo kích thước hạt (toàn dải): 0,01 – 5000µm
  • Dải đo kích thước hạt (chế độ đo bột phân tán khô): 0,1 – 5000µm
  • Số lượng loại hạt: 93 (người dùng điều chỉnh được)
  • Độ chính xác: tốt hơn dao động 0,6% (định nghĩa cho sự hồi quy cỡ hạt trung bình)
  • Độ lặp lại: tốt hơn dao động 0,1% (định nghĩa cho sự hồi quy cỡ hạt trung bình).

Tin tức khác

 
Vui lòng đợi...